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應(yīng)用領(lǐng)域：α能譜探測器能譜測量、半導(dǎo)體材料缺陷分析
應(yīng)用領(lǐng)域：X射線探測器性能測試
第一時(shí)間獲得迪泰克最新產(chǎn)品與公司動(dòng)態(tài)
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